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SDW-CH-500 多模式超聲波測厚儀產(chǎn)品介紹：

  SDW-CH-500 多模式超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時，脈沖被反射回探頭通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。（適合測量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度）。

功能特點：

1、支持兩種測厚模式：發(fā)射-回波模式（P-E）和回波-回波（E-E）模式，允許使用者在發(fā)射-回波模式（一般用于檢測缺陷和凹坑）和回波-回波模式（測厚時不計入涂覆層厚度）之間進(jìn)行切換；

2、采用高精度計時芯片，實現(xiàn)精確厚度測量；

3、支持多種專用探頭，測量范圍最大600mm；

4、自動V-PATH修正，補償雙晶探頭測厚的非線性；

5、采用高性能CPU芯片，每秒進(jìn)行10次厚度測量；

6、采用彩色大屏幕320×240 TFT液晶屏，信息豐富、直觀、顯示清晰、亮度可調(diào)，方便在光線昏暗和強烈日光環(huán)境中使用。